WBE-KSH1000/Hurtig temperaturændring Testkammer

Prøveemnet kan udsættes for temperaturspændingstest (ESS), temperatur- og fugtighedsscreening, pålidelighedstest osv. Almindeligt anvendte temperaturrampehastigheder er 5 ° C/min, 10 ° C/min, 15 ° C/min, 20 ° C/min og 25 ° C/min.

Anvendelsesområder:

Halvlederchips, videnskabelige forskningsinstitutioner, kvalitetsinspektion, ny energi, optoelektronisk kommunikation, rumfart og militærindustri, bilindustri, LCD-skærm, medicinsk og anden teknologiindustri.

Test standarder:

GB/T 2423.1 Lavtemperaturtestmetode, GJB 150.3 Højtemperaturtestmetode, GB/T 2423.2 Højtemperaturtestmetode, GJB 150.4 Lavtemperaturtest, GB/T2423.34 Fugtighedscyklustestmetode, GJB 150.9 Fugtighedstestmetode, IEC60068-2 temperatur- og fugtighedstestmetode, MIL-STD-202G-103B Fugtighedstestmetode

Produktets egenskaber:

1. Produktet opfylder både lineære og ikke-lineære krav til temperaturramping.
2. Det opfylder kravene til temperaturrampehastighed på 5 °C / min til 30 °C / min.
3. Valgfrie funktioner omfatter flydende nitrogen, fugtig varme og antikondens.
4. Ved hjælp af elektronisk ekspansionsventilteknologi og et innovativt kontrolsystem opnår produktet energibesparelser på over 45%.