Det bruges til at teste ydeevnen af forskellige produkter i varmebestandighed, kuldebestandighed. Anvendes hovedsageligt i halvlederchips,videnskabelige forskningsinstitutioner, kvalitetsinspektion,ny energi,optoelektronisk kommunikation,rumfart militærindustri, bilindustri,LCD-skærm,medicinske og andre højteknologiske industrier。
Det bruges til at teste ydeevnen af forskellige produkter i varmebestandighed, kuldebestandighed. Anvendes hovedsageligt i halvlederchips,videnskabelige forskningsinstitutioner, kvalitetsinspektion,ny energi,optoelektronisk kommunikation,rumfart militærindustri, bilindustri,LCD-skærm,medicinske og andre højteknologiske industrier。
Test standarder:
1.B/T 2423.1 Testmetode ved lav temperatur
2.GJB 150.3 test ved høj temperatur
3.GB/T 2423.2 testmetode for høj temperatur
4.GJB 150.4 test ved lav temperatur
